La technologie des détecteurs infrarouge non refroidis (microbolomètres) a ouvert le domaine de l'imagerie thermique à de nouvelles applications et aux marchés de grand volume, aide à la conduite automobile, automatisme des bâtiments connectés, smartphone... (www.lynred.com).
Développée au Département Optique et Photonique du LETI, cette technologie a été transférée à la société Lynred (issue du groupe Sofradir-Ulis, situé à Veurey-Voroize, 38) en charge de son industrialisation et de sa commercialisation. Les nouveaux besoins exprimés exigent cependant que la technologie actuelle s'améliore par des développements en rupture, notamment pour réduire le pas du pixel de 12µm actuellement à une taille ultime de 5µm fixée par la diffraction optique du rayonnement infrarouge. C'est le cadre de ce stage qui porte sur l'évaluation de transducteurs thermiques MOS (Metal Oxide Semiconductor) intégrés sur film FD-SOI (Fully Depleted Silicon On Insulator) dont on attend des performances en rupture, relativement à la technologie actuelle à base de thermistors en silicium amorphe. Le stage est plus précisément consacré au test électrique de structures MOS sur SOI développées expressément pour les besoins de cette nouvelle technologie de détection infrarouge. Ainsi, l'étudiant aura en charge la caractérisation électrique sous micro-pointes de transistors FDSOI (I-V en température, mesure de bruit électronique, C(V), caractérisation des propriétés bolométriques...). L'étudiant sera de plus amené à réaliser des mesures de charge pumping sur des diodes PIN sur SOI. Il aura à sa disposition les moyens habituels de mesure (Prober analytique pour le test au niveau des plaquettes de silicium, Testeur paramétrique de semi-conducteurs, Analyseur de bruit, Banc optique) et de simulation device et process de la micro-électronique silicium. A l'issue de ses travaux, l'étudiant aura débouché sur une évaluation approfondie des dispositifs mesurés. Les résultats obtenus seront confrontés aux données de l'état de l'art et les perspectives de progression seront évaluées.

Pour candidater, merci d'envoyer CV+LM à l'adresse suivante: jean-jacques.yon@cea.fr