Nano-épitaxie du GaN pour substrats avancés H/F
Stage Grenoble (Isère) Développement informatique
Description de l'offre
Détail de l'offre
Informations générales
Entité de rattachement
Le Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA) est un organisme public de recherche.Acteur majeur de la recherche, du développement et de l'innovation, le CEA intervient dans le cadre de ses quatre missions :
. la défense et la sécurité
. l'énergie nucléaire (fission et fusion)
. la recherche technologique pour l'industrie
. la recherche fondamentale (sciences de la matière et sciences de la vie).
Avec ses 16000 salariés -techniciens, ingénieurs, chercheurs, et personnel en soutien à la recherche- le CEA participe à de nombreux projets de collaboration aux côtés de ses partenaires académiques et industriels.
Référence
2019-10501Description du poste
Domaine
Technologies micro et nano
Contrat
Stage
Intitulé de l'offre
Nano-épitaxie du GaN pour substrats avancés H/F
Sujet de stage
Aujourd'hui, il existe un besoin de substrats avancés basés sur du GaN pour améliorer les performances des applications comme les LEDs rouges pour les micro-displays (avec de l'InGaN), et les LEDs UV pour la purification d'eau (avec de l'AlGaN). La technique de nano-épitaxie à partir de nano-piliers du GaN ferait une rupture technologique pour produire les substrats de haute qualité nécessaires pour ces composants, avec une technologie très simple et peu cher.
Durée du contrat (en mois)
6 mois
Description de l'offre
Le stage aura comme but de faire les premiers essais de croissance de nano-piliers sur des masques déjà fabriqués sur pseudo-substrat GaN. Pour arriver à faire ces croissances, vous devrez d’abord étudier la sélectivité de croissance pour plusieurs alliages de GaN avec plusieurs conditions de croissance. Ensuite vous devrez démarrer la croissance de nano-piliers et leur coalescence. L’étude de sélectivité aura principalement besoin de mesures MEB comme caractérisation, mais suite aux croissances de nano-fils, vous ferez des caractérisations complémentaires. Ces caractérisations seront principalement l’XRD pour quantifier la densité de défauts, l’AFM pour regarder la morphologie de surface et éventuellement la cathodo-luminescence pour quantifier la densité de dislocations.
Pour postuler à cette offre, merci de contacter Mr CHARLE Matthew à l'adresse suivante : matthew.charles@cea.fr
Profil recherché
Profil du candidat
Bac +5