Alternance:Développement et évaluation de nouvelles méthodes d'analyses de contaminants H/F
Stage Grenoble (Isère) Chimie / Biologie / Agronomie
Description de l'offre
Détail de l'offre
Informations générales
Entité de rattachement
Le Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA) est un organisme public de recherche.Acteur majeur de la recherche, du développement et de l'innovation, le CEA intervient dans le cadre de ses quatre missions :
. la défense et la sécurité
. l'énergie nucléaire (fission et fusion)
. la recherche technologique pour l'industrie
. la recherche fondamentale (sciences de la matière et sciences de la vie).
Avec ses 16000 salariés -techniciens, ingénieurs, chercheurs, et personnel en soutien à la recherche- le CEA participe à de nombreux projets de collaboration aux côtés de ses partenaires académiques et industriels.
Référence
2020-12896Description de l'unité
Dans le domaine de la microélectronique, il est très important de pouvoir identifier et quantifier les traces de contaminants métalliques présents à la surface de plaques de silicium car celles-ci peuvent entrainer des baisses de performances électriques sur les dispositifs fabriqués. Différentes techniques de collecte et d'analyse des contaminants métalliques sont déjà présentes au CEA comme la fluorescence de rayons X en réflexion totale (TXRF). Afin d'améliorer la sensibilité de détection, la mise au point de méthodologie d'analyse reste à développer.
Description du poste
Domaine
Technologies micro et nano
Contrat
Alternance
Intitulé de l'offre
Alternance:Développement et évaluation de nouvelles méthodes d'analyses de contaminants H/F
Sujet de stage
Développement et évaluation de nouvelles méthodes d'analyses de contaminants en microélectronique.
Durée du contrat (en mois)
10 à 12 mois
Description de l'offre
Le sujet se focalise sur le développement de méthodes d'analyse par TXRF, une technique qui permet la mesure de contaminants métalliques à la surface de plaques de silicium grâce à un faisceau de rayon X. Cette technique est déjà opérationnelle pour des demandes d'analyses routinières en mode cartographie ou localisé à l'échelle d'une tranche de silicium (de 100 à 300 mm de diamètre). Vous travaillerez sur le développement et l'optimisation :
- de la mesure en extrême bord de plaque,
- d'un mode appelé HSST pour High Surface Sensitivity Treatment permettant de diminuer les limites de détection,
- de l'analyse de surfaces hydrophiles par décomposition en phase vapeur (VPD)
- de l'analyse TXRF sur d'autres natures de matériaux comme par ex l'AsGa ou l'InP.
Merci d'envoyer vos Cv et LM à : delphine.boutry@cea.fr
Profil recherché
Profil du candidat
IUT Mesures Physiques
Licence pro