Alternance:Caractérisation physico-chimique de surfaces de matériaux innovants H/F
Stage Grenoble (Isère) Conception / Génie civil / Génie industriel
Description de l'offre
Détail de l'offre
Informations générales
Entité de rattachement
Le Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA) est un organisme public de recherche.Acteur majeur de la recherche, du développement et de l'innovation, le CEA intervient dans le cadre de ses quatre missions :
. la défense et la sécurité
. l'énergie nucléaire (fission et fusion)
. la recherche technologique pour l'industrie
. la recherche fondamentale (sciences de la matière et sciences de la vie).
Avec ses 16000 salariés -techniciens, ingénieurs, chercheurs, et personnel en soutien à la recherche- le CEA participe à de nombreux projets de collaboration aux côtés de ses partenaires académiques et industriels.
Référence
2020-12897Description de l'unité
Les semi-conducteurs ont acquis en trente ans une importance considérable aux niveaux technique et industriel. Les performances de ces matériaux déposés en couches minces reposent sur la maîtrise des caractéristiques chimiques et morphologiques des surfaces/interfaces via le couplage de techniques d'analyse de surface : la Spectroscopie de Photoélectrons à Rayonnement X (XPS) et la spectrométrie de masse à temps de vol (ToF-SIMS). La combinaison de ces deux techniques permettra de progresser dans la connaissance des propriétés de surfaces et d'interfaces de semiconducteurs d'intérêt tels que les matériaux de type IV-IV Si/SiGe, III-V AlGaN et II-VI CdHgTe pour des applications aux transistors de puissance, aux LEDs ou encore aux détecteurs infrarouge de dernière génération. Notamment, l'analyse expérimentale des interfaces «enfouies» revêt une importance capitale pour la compréhension des propriétés physicochimiques des semiconducteurs.
Description du poste
Domaine
Matériaux, physique du solide
Contrat
Alternance
Intitulé de l'offre
Alternance:Caractérisation physico-chimique de surfaces de matériaux innovants H/F
Sujet de stage
Caractérisation physico-chimique de surfaces de matériaux innovants pour des applications en microélectronique.
Durée du contrat (en mois)
10 à 12 mois
Description de l'offre
But:
Accéder et caractériser finement la composition chimique des interfaces enfouies (analyse des pics de cœur couplée aux bandes de valence) via la réalisation de profils en profondeur XPS et ToF-SIMS (avec des résolutions de l'ordre du nanomètre) d'une sélection de matériaux innovants.
Elaborer des méthodes de profilage en profondeur et mettre en place un nouveau protocole d'abrasion ionique couplant des décapages à l'argon monoatomique et aux clusters d'argon afin d'accéder à l'ensemble des couches interfaciales en limitant les dommages.
Corréler deux techniques complémentaires (XPS, ToF-SIMS) pour ajuster les vitesses d'abrasion.
Aspect novateur:
Contribuer à l'entretien et l'enrichissement du patrimoine scientifique et technique de la plateforme de nano-caractérisation (PFNC) via l'archivage d'échantillons de référence et la mise en place de bases de données d'informations pertinentes (vitesses d'abrasion et énergies de liaisons).
Instrumentation:
Analyse de surface et profilométrie XPS et ToF-SIMS, Interféromètre optique.
Merci d'envoyer vos CV et LM à : eugenie.martinez@cea
Profil recherché
Profil du candidat
DUT
Licence pro