Alternance:Analyses dimensionnelles de nanostructures par diffusion de rayons X H/F
Stage Grenoble (Isère) Conception / Génie civil / Génie industriel
Description de l'offre
Détail de l'offre
Informations générales
Entité de rattachement
Le Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA) est un organisme public de recherche.Acteur majeur de la recherche, du développement et de l'innovation, le CEA intervient dans le cadre de ses quatre missions :
. la défense et la sécurité
. l'énergie nucléaire (fission et fusion)
. la recherche technologique pour l'industrie
. la recherche fondamentale (sciences de la matière et sciences de la vie).
Avec ses 16000 salariés -techniciens, ingénieurs, chercheurs, et personnel en soutien à la recherche- le CEA participe à de nombreux projets de collaboration aux côtés de ses partenaires académiques et industriels.
Référence
2020-12898Description de l'unité
Le sujet d'alternance porte sur la mise en œuvre de la technique de diffusion de rayons X (SAXS) sur des structures constituées de réseau périodique de nanostructures afin d'en établir de façon juste les caractéristiques morphologique et dimensionnelles. Cette technique nécessite actuellement l'utilisation de faisceau synchrotron ou de source de rayons X optimisées disponibles dans peu de laboratoire. Le besoin industriel est de réaliser des échantillons calibrés par cette technique à des fins de raccordement de justesse pour satisfaire aux exigences normatives.
Le sujet est proposé pat ST Crolles, l'alternance se déroulera à ST Crolles et au CEA de Grenoble.
Description du poste
Domaine
Instrumentation, métrologie et contrôle
Contrat
Alternance
Intitulé de l'offre
Alternance:Analyses dimensionnelles de nanostructures par diffusion de rayons X H/F
Sujet de stage
Analyses dimensionnelles de nanostructures par diffusion de rayons X pour création de référence métrologique industrielle.
Durée du contrat (en mois)
10 à 12 mois
Description de l'offre
Rattaché(e) au groupe de Métrologie de STMicroelectronics à Crolles, vous serez également intégré(e) au sein du service de Caractérisation Physique du LETI. Sur la base d'échantillons élaborés par le LETI, vous sera amené(e) à effectuer des mesures sur les équipements industriels de la salle blanche de ST qui mettent en œuvre la microscopie électronique et la diffusion optique (scattérométrie). Ces mêmes structures auront été caractérisées par CD-SAXS par le LETI, et vous devrez traiter les données expérimentales et comparer les résultats aux autres techniques d'analyse. Au final, avec l'appui du service Qualité de STMicroelectronics, vous devrez établir le protocole de raccordement et proposer une documentation de type certification d'étalons secondaires.
Ce sujet nécessite un gout pour l'expérimentation et une bonne compréhension des techniques de caractérisation avancée. L'alternance devra établir un pont entre les besoins industriels et les techniques de laboratoire avancées.
Merci d'envoyer vos CV et LM à : patrice.gergaud@cea.fr