Assistant ingénieur R&D Projet
- Chimie / Biologie / Agronomie Sujet : Caractérisation de la contamination métallique de matériaux semi-conducteurs III-V : Cas de l’InGaAs.
Expérimentation et développement de techniques de caractérisation de la contamination métallique en extrême surface et en volume sur des matériaux III-V par Ellipsomètre, AFM, TXRF et LPD-ICPMS en milieu ultra-propre (salle blanche).