L'objectif du stage est la mesure précise de composition de différents systèmes à partir d'images à résolution atomique acquises sur les microscopes électroniques en transmission (TEM) du CEA Grenoble.

Pour les systèmes cristallins sensibles aux dégâts d'irradiation sous faisceau d'électrons (matériaux nanostructurés à changement de phase, matériaux III-V avec indium, alliages GalSb pour détecteurs infrarouges..), il est nécessaire de quantifier chimiquement le matériau à l'échelle atomique tout en minimisant la dose électronique.

L'imagerie haute-résolution, plus précisément en champ sombre annulaire à grand angle (HAADF), permet de répondre à ce besoin. L'objectif de ce stage est de développer les outils expérimentaux et de simulation permettant de relier quantitativement le contraste de ces images à la composition chimique du matériau.

Sur la PFNC, deux TEM - Titan Ultimate et Thémis - sont équipés de correcteur d'aberrations permettant d'acquérir des images HAADF à l'état de l'art en terme de résolution atomique.

Dans le cadre du stage, les lames minces seront préparées par polissage mécanique ou par pulvérisation ionique. Les expériences aux microscopes seront réalisées avec les encadrants, une formation au microscope sera également dispensée. Vous pourrez également vous appuyer sur les doctorants de l'équipe pour exploiter les outils informatiques de traitement des données.

Pour postuler à cette offre, merci de contacter M. BERNIER à l'adresse suivante : class="Location">